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题名/责任者:

高速数字接口与光电测试/李凯著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2022.1

ISBN及定价:

978-7-302-59040-8/CNY178.00

载体形态项:

425页:彩图;26cm

并列正题名:

High speed digital interface and optoelectronic test

个人责任者:

李凯 著

学科主题:

数字接口-接口技术

学科主题:

光电检测-测试技术

中图法分类号:

TN919.5

中图法分类号:

TN206

一般附注:

四色印刷 《高速数字接口原理与测试指南》的升级版

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

责任者附注:

李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家, 毕业于北京理工大学光电工程系, 硕士学位。

提要文摘附注:

本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。

使用对象附注:

本书可供从事服务器、交换机、移动终端、光模块、光通信设备、高速数字芯片、高速光电器件的研发和测试人员了解学习高速数字、光电互联的相关技术及测试方法, 也可供高校电子信息类专业的师生做数字电路、信号完整性、光通信技术、光电器件方面的教学参考

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