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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:23

题名/责任者:
嵌入式软件测试/康一梅[等]著
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-111-23995-6/CNY28.00
载体形态项:
11,229页;26cm
个人责任者:
康一梅
学科主题:
软件工具-测试-教材
中图法分类号:
TP311.56
一般附注:
嵌入式系统系列教材
题名责任附注:
著者还有:张永革、李志军、胡江、吴伟
提要文摘附注:
本书讨论了嵌入式软件测试的相关知识,包括:嵌入式软件测试的相关基本概念、嵌入式软件测试的生命周期、嵌入式软件测试的相关技术、嵌入式软件的测试过程等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP311.56/283 00493155   密集书库 (图书定位请点击这里)    非可借 密集书库
TP311.56/283 A00173969   密集书库 (图书定位请点击这里)    借出-应还日期: 密集书库
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