MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 瞬时电离辐射效应/陈伟[等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2023.05
- ISBN及定价:
- 978-7-03-074044-1 精装/CNY180.00
- 载体形态项:
- 208页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书/陈伟主编
- 中图法分类号:
- O644.2
- 一般附注:
- 国家科学技术学术著作出版基金资助出版
- 提要文摘附注:
- 瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用，感生光电流，改变器件及电路的特性和功能，影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核辐射环境及效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用。
- 使用对象附注:
- 本书可作为从事辐射物理、抗辐射加固技术研究的科技人员及高校相关专业师生的参考书
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