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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
高等仪器分析/王霆,孙铁东编著
出版发行项:
北京:科学出版社,2023.09
ISBN及定价:
978-7-03-076215-3/CNY98.00
载体形态项:
267页:图;24cm
个人责任者:
王霆 编著
个人责任者:
孙铁东 编著
学科主题:
仪器分析
中图法分类号:
O657
提要文摘附注:
本书围绕分子结构解析和材料表界面研究,分九章介绍与之相关的各种先进仪器分析方法,包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。
使用对象附注:
本书适用于化工、材料、生命科学领域科研工作者
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O657/13 00796965   书库 (图书定位请点击这里)    可借 书库
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