MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试:理论、方法与实践/李华伟 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024.6
- ISBN及定价:
- 978-7-302-66203-7/CNY79.00
- 载体形态项:
- x, 258页:图;24cm
- 并列正题名:
- Digital integrated circuit testing:principles, methodologies and practices
- 丛编项:
- 集成电路科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 李华伟 编著
- 个人责任者:
- 郑武东 编著
- 个人责任者:
- 温晓青 编著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.207
- 题名责任附注:
- 题名页题: 李华伟, 郑武东, 温晓青, 赖李洋, 叶靖等编著
- 相关题名附注:
- 英文并列题名取自封面
- 责任者附注:
- 李华伟, 中国科学院计算技术研究所研究员, 中国科学院大学教授, 中国计算机学会集成电路设计专委会主任。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试等。郑武东, 西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家, IEEELife Fellow, 在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。温晓青, 日本九州工业大学教授, IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试及高可靠性设计。
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。
- 使用对象附注:
- 本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生的教材, 同时可供从事集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考
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