MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 实用软件测试:来自硅谷的技术、经验、心得和实例/李幸超著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-121-03264-3/CNY25.00
- 载体形态项:
- 207页:图表;24cm
- 其它题名:
- 来自硅谷的技术、经验、心得和实例
- 个人责任者:
- 李幸超 著
- 学科主题:
- 软件-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 一般附注:
- 其他题名：来自硅谷的技术、经验、心得和实例
- 书目附注:
- 有书目 (第206-207页)
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了有关软件测试的基本知识和全过程。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP311.5/46 | 00171205 | 1: |  密集书库
(图书定位请点击这里) |
可借 | 密集书库 |
| TP311.5/46 | A00141980 | 书库
(图书定位请点击这里) |
借出-应还日期： | 书库 | |
| TP311.5/46 | 00171204 | 1: | 书库
(图书定位请点击这里) |
可借 | 流通台 |
| TP311.5/46 | 00171206 | 1: | 书库
(图书定位请点击这里) |
可借 | 流通台 |
显示全部馆藏信息