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题名/责任者:

加速试验:统计模型、试验设计与数据分析/(美)韦恩·B. 纳尔逊(Wayne B. Nelson)著 张正平，李海波等译

出版发行项:

北京:中国宇航出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-5159-1679-8 精装/CNY128.00

载体形态项:

20,534页;26cm

并列正题名:

Accelerated testing:statistical models, test plans, and data analysis

个人责任者:

(美) 纳尔逊 (Nelson, Wayne B.) 著

个人次要责任者:

张正平 译

个人次要责任者:

李海波 译

学科主题:

加速寿命试验

中图法分类号:

N33

一般附注:

航天科技图书出版基金资助出版

版本附注:

John Wiley & Sons, Inc.授权出版

提要文摘附注:

本书共11章，内容包括：恒定应力寿命试验模型、数据图形分析法、完全数据和最小二乘法、截尾数据和最大似然方法、试验方案设计、竞争失效模式和尺寸效应、完全数据的最小二乘法比较、截尾及其他数据的最大似然比较、步进和变应力模型及数据分析等。

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