MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:18
- 题名/责任者:
- 碳化硅技术基本原理:生长、表征、器件和应用/(日) 木本恒畅, (美) 詹姆士·A. 库珀著 夏经华 ... [等] 译
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-111-58680-7/CNY150.00
- 载体形态项:
- xiii, 500页:图;24cm
- 统一题名:
- Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices, and applications
- 其它题名:
- 生长、表征、器件和应用
- 丛编项:
- 新型电力电子器件丛书
- 个人责任者:
- 木本恒畅 著
- 个人责任者:
- 库珀 (Cooper, James A.) 著
- 个人次要责任者:
- 夏经华 译
- 个人次要责任者:
- 潘艳 译
- 学科主题:
- 碳化硅陶瓷
- 中图法分类号:
- TQ174.75
- 题名责任附注:
- 题名页题: 夏经华, 潘艳, 杨霏, 张安平, 邓小川等译
- 责任者附注:
- 木本恒畅, 日本京都大学电子科学与工程系的教授。詹姆士·A. 库珀, 普渡大学电气与计算机工程学院的教授。
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书是一本有关碳化硅材料、器件工艺、器件和应用方面的书籍, 其主题包括碳化硅的物理特性、晶体和外延生长、电学和光学性能的表征、扩展缺陷和点缺陷, 器件工艺、功率整流器和开关器件的设计理念, 单/双极型器件的物理和特征、击穿现象、高频和高温器件, 以及碳化硅器件的系统应用, 涵盖了基本概念和新发展现状, 并针对每个主题做深入的阐释, 包括基本的物理特性、新的理解、尚未解决的问题和未来的挑战。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TQ174.75/32 | 00754932 | 书库 (图书定位请点击这里) | 可借 | 书库 | |
TQ174.75/32 | 00754933 | 书库 (图书定位请点击这里) | 可借 | 书库 |
显示全部馆藏信息