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- 题名/责任者:
- 伪集成电路检测与防护/(美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark(Mohammad) Tehranipoor)，乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，多梅尼克·福特(Domenic Forte)著 李雄伟[等]译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2022.07
- ISBN及定价:
- 978-7-118-12500-9 精装/CNY125.00
- 载体形态项:
- 20,227页:图;24cm
- 中图法分类号:
- TN407
- 一般附注:
- 装备科技译著出版基金
- 提要文摘附注:
- 本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析，并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家，全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题，可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室，以及学术界提供必需的路线图。
- 使用对象附注:
- 集成电路监测研究人员
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