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题名/责任者:

集成电路系统设计、验证与测试/(美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grant Martin著 陈力颖，王猛译

出版发行项:

北京:科学出版社,2008

ISBN及定价:

978-7-03-021490-4/CNY62.00

载体形态项:

14,475页;26cm

并列正题名:

EDA for IC System Design, Verfication and Testing

丛编项:

集成电路EDA技术

个人责任者:

(美) 谢佛尔 (Scheffer, Louis) 著

个人责任者:

(美) 拉瓦尼奥 (Lavagno, Luciano) 著

个人责任者:

(美) 马丁 (Martin, Grant) 著

个人次要责任者:

陈力颖 译

个人次要责任者:

王猛 译

学科主题:

集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN402

一般附注:

并列题名：EDA for IC System Design, Verfication and Testing

相关题名附注:

英文原名：EDA for IC System Design, Verfication and Testing

提要文摘附注:

本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。

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