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题名/责任者:

集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试/(美)Rick Mugridge, (美)Ward Cunningham著 吴兰陟译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-121-04094-8/CNY45.00

载体形态项:

16,355页:图;23cm

并列正题名:

Fit for developing software:framework for integrated tests

其它题名:

用Fit进行敏捷软件测试

个人责任者:

(美) 穆格雷珠 (Mugridge, Rick) 著

个人责任者:

(美) 坎宁安 (Cunningham, Ward) 著

个人次要责任者:

吴兰陟 译

学科主题:

软件工具-测试

中图法分类号:

TP311.56

一般附注:

并列题名：Fit for developing software

一般附注:

其他题名：用Fit进行敏捷软件测试

出版发行附注:

本书简体中文版电子工业出版社和Pearson Education培生教育出版亚洲有限公司合作出版

书目附注:

附索引(第345-355页)

提要文摘附注:

本书解释了Fit框架的原理，通过一个虚拟的例子(聚会物品租借业务)，讲述了如何在敏捷软件开发过程中将Fit应用到各个环节，强调测试先行的重要性。

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