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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
UVM芯片验证技术案例集/马骁编著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-302-65854-2/CNY119.00
载体形态项:
20,424页:图;24cm
丛编项:
计算机技术开发与应用丛书
个人责任者:
马骁 (电子技术) 编著
学科主题:
芯片-验证
中图法分类号:
TN43
提要文摘附注:
本书分为多个专题,每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题,相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤,实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景,解决的思路、基本原理、步骤,并给出了示例代码供参考。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN43/18 00815366   采编部 (图书定位请点击这里)    在编 采编部
TN43/18 00815367   采编部 (图书定位请点击这里)    在编 采编部
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