MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：6
- 题名/责任者:
- 集成电路开发与测试.初级/主编吕坤颐, 夏敏磊
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-04-055326-0/CNY48.00
- 载体形态项:
- 215页:图;26cm
- 丛编项:
- 集成电路职业标准建设系列丛书
- 丛编项:
- 集成电路1+X职业技能等级证书系列丛书
- 个人责任者:
- 吕坤颐 主编
- 个人责任者:
- 夏敏磊 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计-职业培训-教材
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试-职业培训-教材
- 中图法分类号:
- TN402
- 中图法分类号:
- TN407
- 题名责任附注:
- 杭州朗迅科技有限公司组编
- 提要文摘附注:
- 本书涵盖初级证书相关工作领域，由职业素养、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用6个项目组成，针对见习流片操作员、见习外观检验员、见习测试员、见习生产保障技术员等岗位涉及的工作领域和任务所需的职业技能要求介绍相关理论知识和实操内容。
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