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题名/责任者:

光学合成孔径成像的共相位误差检测方法/赵伟瑞著

出版发行项:

北京:北京理工大学出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-5763-0848-8/CNY88.00

载体形态项:

306页:图;24cm

并列正题名:

Cophasing error detection for optical segmented imaging systems

个人责任者:

赵伟瑞 著

学科主题:

雷达成像

中图法分类号:

TN957.52

中图法分类号:

TN95

提要文摘附注:

本书介绍了合成孔径成像技术的发展现状和基本原理，对其中的关键技术——共相位误差检测方法进行了研究和阐述，其中包括基于经典光学原理的检测方法、近年来研究的空域到频域转换法以及新兴的基于深度学习的检测方法等，对各种方法的理论依据、原理、数学模型的建立、误差影响因素等进行了阐述，并给出了相应的实验验证系统及分析。

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