MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:18
- 题名/责任者:
- 电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗,罗宏伟编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-121-33485-6/CNY98.00
- 载体形态项:
- 11,382页:图;26cm
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 王晓晗 编著
- 个人责任者:
- 罗宏伟 编著
- 学科主题:
- 电子元器件-测试技术
- 中图法分类号:
- TN6
- 题名责任附注:
- 工业和信息化部电子第五研究所组编
- 提要文摘附注:
- 本书从电子元器件检验和生产行业角度出发,围绕电子元器件检验主题,阐述了检验的基本概念、标准体系,重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法,同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概括总结。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN6/35:1 | 00464506 | 书库 (图书定位请点击这里) | 可借 | 书库 | |
TN6/35:1 | A00174500 | 书库 (图书定位请点击这里) | 借出-应还日期: | 书库 |
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