MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：4
- 题名/责任者:
- 微电子器件可靠性/贾新章[等]编著
- 版本说明:
- 2版
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2025
- ISBN及定价:
- 978-7-04-063764-9/CNY45.00
- 载体形态项:
- 277页:图;26cm
- 个人责任者:
- 贾新章 编著
- 学科主题:
- 微电子技术-电子器件-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN406
- 一般附注:
- 集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材
- 题名责任附注:
- 编著者还有：刘红侠、游海龙、恩云飞等
- 版本附注:
- 1999年第1版
- 提要文摘附注:
- 本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。
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