广东职业技术学院图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

片上系统测试设计与优化/(瑞典) 埃里克·拉森著 孙仁杰译

出版发行项:

北京:科学出版社,2024.1

ISBN及定价:

978-7-03-076918-3/CNY88.00

载体形态项:

x, 314页:图;26cm

并列正题名:

Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization

个人责任者:

拉森 (Larsson, Erik) 著

个人次要责任者:

孙仁杰 译

学科主题:

微型计算机-系统测试

中图法分类号:

TP360.21

书目附注:

有书目 (第301-314页)

提要文摘附注:

本书旨在讨论片上系统 (SoC) 测试的相关问题, 包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂, 测试数据量不断增加, 如何组织测试, 即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

使用对象附注:

本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读, 也可作为软件测试领域从业者的参考用书

豆瓣简介：