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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:12

题名/责任者:
半导体干法刻蚀技术:原子层工艺/(美)索斯藤·莱尔(Thorsten Lill)著 丁扣宝译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2023.09
ISBN及定价:
978-7-111-73426-0/CNY119.00
载体形态项:
14,225页:图;24cm
并列正题名:
Atomic layer processing:semiconductor dry etching technology
其它题名:
原子层工艺
丛编项:
集成电路科学与工程丛书
个人责任者:
(美) 莱尔 (Lill, Thorsten) 著
个人次要责任者:
丁扣宝
学科主题:
半导体技术-干法刻蚀
中图法分类号:
TN305.7
一般附注:
Wiley
版本附注:
Wiley授权出版
相关题名附注:
版权页英文题名:Atomic layer processing: semiconductor dry etching technology
提要文摘附注:
本书主要内容有:热刻蚀、热各向同性ALE、自由基刻蚀、定向ALE、反应离子刻蚀、离子束刻蚀等,探讨了尚未从研究转向半导体制造的新兴刻蚀技术,涵盖了定向和各向同性ALE的最新研究和进展。本书以特定的刻蚀应用作为所讨论机制的示例,例如栅极刻蚀、接触孔刻蚀或3D NAND通道孔刻蚀,有助于对所有干法刻蚀技术的原子层次理解。
使用对象附注:
本书适用于微电子学与固体电子学、电子科学与技术、集成电路科学与工程等专业的研究生和高年级本科生,相关领域的工程技术人员
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