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题名/责任者:

微电子器件可靠性/贾新章[等]编著

版本说明:

2版

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-04-063764-9/CNY45.00

载体形态项:

277页:图;26cm

个人责任者:

贾新章 编著

学科主题:

微电子技术-电子器件-可靠性-高等学校-教材

中图法分类号:

TN406

一般附注:

集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材

题名责任附注:

编著者还有：刘红侠、游海龙、恩云飞等

版本附注:

1999年第1版

提要文摘附注:

本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。

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