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题名/责任者:

LabVIEW与天线测量技术/马玉丰[等]编著

出版发行项:

西安:西安电子科技大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5606-6841-3/CNY49.00

载体形态项:

256页:图;26cm

丛编项:

天线测试技术丛书

个人责任者:

马玉丰 编著

学科主题:

软件工具-程序设计

学科主题:

微波天线-测量技术

非控制主题词:

LabVIEW

中图法分类号:

TP311.561

中图法分类号:

TN822

题名责任附注:

编著还有：刘灵鸽、张启涛、王宇

提要文摘附注:

本书分15章，内容包括：认识LabVIEW、数据格式、循环与事件结构、画图与显示、VI显示设置与美化、程序代码的保护、天线测试参数基本知识等。

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