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题名/责任者:

现代VLSI器件基础/(美)陶元(Yuan Taur)，(美)甯德雄(Tak H. Ning)著 黄如[等]译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-121-38073-0/CNY128.00

载体形态项:

23,484页:图;26cm

并列正题名:

Fundamentals of modern VLSI devices

丛编项:

集成电路系列丛书

个人责任者:

(美) 陶元 (Taur, Yuan) 著

个人责任者:

(美) 甯德雄 (Ning, Tak H.) 著

个人次要责任者:

黄如 (1969-) 译

学科主题:

VLSI芯片-电路设计

中图法分类号:

TN470.2

题名责任附注:

译者还有：王润声、黎明、蔡一茂、谢倩、安霞

版本附注:

由Yuan Taur, Tak H. Ning授权出版 据原书第2版译出

提要文摘附注:

本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理；然后从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。用大量篇幅对现代CM0S器件、双极器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。

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