MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试理论、方法与实践/李华伟[等]编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-302-66203-7/CNY79.00
- 载体形态项:
- 10,258页:图;24cm
- 丛编项:
- 集成电路科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 李华伟 (女， 1974-) 编著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.207
- 题名责任附注:
- 编著者还有：郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维
- 相关题名附注:
- 封面英文题名：Digital integrated circuit testing: principles, methoologies and practices
- 提要文摘附注:
- 本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。
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