MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：6
- 题名/责任者:
- 半导体器件建模与测试实验教程:基于华大九天器件建模与验证平台XModel/杜江锋，石艳玲，朱能勇编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2025
- ISBN及定价:
- 978-7-121-49371-3/CNY58.00
- 载体形态项:
- 213页:图;26cm
- 其它题名:
- 基于华大九天器件建模与验证平台XModel
- 丛编项:
- 集成电路系列丛书.电子设计自动化
- 个人责任者:
- 杜江锋 编著
- 个人责任者:
- 石艳玲 编著
- 个人责任者:
- 朱能勇 编著
- 学科主题:
- 半导体器件-系统建模-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN303
- 一般附注:
- 国产EDA系列教材
- 提要文摘附注:
- 本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上，全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应；介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计；给出了MOSFETBSIM模型参数提取流程；介绍了半导体器件SPICE模型建模平台EmpyreanXModel，深入介绍了XModel的基本功能和界面；介绍了MOSFET器件电学特性测试平台、测试模式和测试流程；分别介绍了MOSFET器件电学特性如C-V、转移特性和输出特性的测量方法；深入介绍了MOSFET模型参数提取的实验步骤和使用流程；介绍了MOSFET射频模型参数提取方法和使用流程；并介绍了GaN器件模型参数提取方法和使用流程。
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