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MARC状态:订购 文献类型:中文图书 浏览次数:10

题名/责任者:
电子器件辐射效应仿真技术/丁李利, 陈伟, 王坦著
出版发行项:
北京:科学出版社,2025
ISBN及定价:
978-7-03-080501-0/CNY128.00
载体形态项:
184页:图;24cm
丛编项:
辐射环境模拟与效应丛书
个人责任者:
丁李利
个人责任者:
陈伟
个人责任者:
王坦
学科主题:
电子器件-辐射效应-仿真
中图法分类号:
TN6
提要文摘附注:
本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容,给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。
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