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中文图书1.集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试:framework for integrated tests TP311.56/230
馆藏复本:5
可借复本:3 (美)Rick Mugridge, (美)Ward Cunningham著
电子工业出版社 2007
(0) 馆藏
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电子工业出版社 2007
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