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• 005 20210704150500.0

• 010 __ |a 978-7-121-38073-0 |d CNY128.00

• 100 __ |a 20200906d2020 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 现代VLSI器件基础 |9 xian dai VLSI qi jian ji chu |b 专著 |d Fundamentals of modern VLSI devices |f (美)陶元(Yuan Taur)，(美)甯德雄(Tak H. Ning)著 |g 黄如[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2020

• 215 __ |a 23,484页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路系列丛书

• 304 __ |a 译者还有：王润声、黎明、蔡一茂、谢倩、安霞

• 305 __ |a 由Yuan Taur, Tak H. Ning授权出版 据原书第2版译出

• 330 __ |a 本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理；然后从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。用大量篇幅对现代CM0S器件、双极器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。

• 461 _0 |1 2001 |a 集成电路系列丛书

• 510 1_ |a Fundamentals of modern VLSI devices |z eng

• 606 0_ |a VLSI芯片 |x 电路设计

• 690 __ |a TN470.2 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 陶元 |9 tao yuan |c (Taur, Yuan) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 甯德雄 |9 ning de xiong |c (Ning, Tak H.) |4 著

• 702 _0 |a 黄如 |9 huang ru |f (1969-) |4 译

• 801 _0 |a CN |b GDPTC |c 20210704

• 905 __ |a GDPTC |d TN470.2/2