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• 010 __ |a 978-7-302-66203-7 |d CNY79.00

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路测试 |A shu zi ji cheng dian lu ce shi |e 理论、方法与实践 |f 李华伟 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2024.6

• 215 __ |a x, 258页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 集成电路科学与技术丛书 |A ji cheng dian lu ke xue yu ji shu cong shu

• 304 __ |a 题名页题: 李华伟, 郑武东, 温晓青, 赖李洋, 叶靖等编著

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 314 __ |a 李华伟, 中国科学院计算技术研究所研究员, 中国科学院大学教授, 中国计算机学会集成电路设计专委会主任。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试等。郑武东, 西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家, IEEELife Fellow, 在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。温晓青, 日本九州工业大学教授, IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试及高可靠性设计。

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。

• 333 __ |a 本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生的教材, 同时可供从事集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路科学与技术丛书

• 510 1_ |a Digital integrated circuit testing |e principles, methodologies and practices |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A shu zi ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.207 |v 5

• 701 _0 |a 李华伟 |A li hua wei |4 编著

• 701 _0 |a 郑武东 |A zheng wu dong |4 编著

• 701 _0 |a 温晓青 |A wen xiao qing |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20240614