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• 010 __ |a 978-7-121-35115-0 |d CNY79.00

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 200 1_ |a 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 |A xian dai ji cheng dian lu he dian zi xi tong de di qiu huan jing fu she xiao ying |d = Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems |f (日) Eishi H. Ibe著 |g 毕津顺, 马瑶, 王天琦译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019.1

• 215 __ |a 14, 210页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国防电子信息技术丛书 |A guo fang dian zi xin xi ji shu cong shu |i 集成电路辐射效应与加固技术

• 306 __ |a 本书简体中文字版专有翻译出版由John Wiley & Sons, Ltd.授予电子工业出版社

• 314 __ |a 责任者Eishi H. Ibe规范汉译姓名: 伊部英治

• 314 __ |a 伊部英治, 博士, IEEE会士。日本日立公司首席研究员。

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模, 以量化和减少其影响, 并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。

• 333 __ |a 本书的读者对象主要是航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备, 以及其他应用物理建模等领域的科研人员和研究生对各种物理现象进行建模和数值计算感兴趣的研究人员或学生也可参考本书

• 410 _0 |1 2001 |a 国防电子信息技术丛书 |i 集成电路辐射效应与加固技术

• 500 10 |a Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems |m Chinese

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 全球环境 |x 辐射效应

• 606 0_ |a 电子系统 |A dian zi xi tong |x 全球环境 |x 辐射效应

• 690 __ |a TN4 |v 5

• 690 __ |a TN103 |v 5

• 701 _0 |a 伊部英治 |A yi bu ying zhi |4 著

• 702 _0 |a 毕津顺 |A bi jin shun |4 译

• 702 _0 |a 马瑶 |A ma yao |4 译

• 702 _0 |a 王天琦 |A wang tian qi |4 译

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20190304

• 905 __ |a GDPTC |d TN4/34