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• 000 01120nam0 2200277 450

• 001 0000387747

• 005 20251212150300.0

• 010 __ |a 978-7-313-30881-8 |d CNY88.00

• 035 __ |a (A100000NLC)013508691

• 049 __ |a A100000NLC |b UCS01013139525 |c 013508691 |d NLC01

• 100 __ |a 20250320d2025 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件物理基础 |9 ban dao ti qi jian wu li ji chu |b 专著 |f 陈达，王璟璟主编

• 210 __ |a 上海 |c 上海交通大学出版社 |d 2025

• 215 __ |a 262页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书按照“载流子浓度随时间、空间变化的基本规律”和“宏观量与微观量之间的联系”两条主线，介绍了半导体物理的基础知识和半导体器件的基本原理与特性。具体内容包括半导体的电子状态、热平衡半导体、PN结的机理与特性、双极结型晶体管、金属－氧化物－半导体结构、金属－半导体结与其他晶体管、闪存存储器、集成电路制造工艺等。

• 606 0_ |a 半导体器件 |9 Ban Dao Ti Qi Jian |x 半导体物理

• 690 __ |a TN303 |v 5

• 690 __ |a O47 |v 5

• 701 _0 |a 陈达 |9 chen da |4 主编

• 701 _0 |a 王璟璟 |9 wang jing jing |4 主编

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20250422

• 905 __ |a GDPTC |d TN303/18