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• 005 20250708171651.0

• 010 __ |a 978-7-04-063764-9 |d CNY45.00

• 100 __ |a 20250708d2025 em y0chiy0110 ea

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 微电子器件可靠性 |A wei dian zi qi jian ke kao xing |b 专著 |f 贾新章[等]编著

• 205 __ |a 2版

• 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2025

• 215 __ |a 277页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材

• 304 __ |a 编著者还有：刘红侠、游海龙、恩云飞等

• 305 __ |a 1999年第1版

• 330 __ |a 本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。

• 606 0_ |a 微电子技术 |x 电子器件 |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN406 |v 5

• 701 _0 |a 贾新章 |A jia xin zhang |4 编著

• 801 _2 |a CN |b 58marc.cn |c 20250709