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- 010 __ |a 978-7-5606-7406-3 |d CNY37.00
- 049 __ |a H110102GMA |b UCS01012974437 |c 158570 |d NLC标准库
- 100 __ |a 20250113d2024 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 晶圆级应变SOI技术 |9 jing yuan ji ying bian SOI ji shu |b 专著 |f 戴显英,苗东铭,荆熠博著
- 210 __ |a 西安 |c 西安电子科技大学出版社 |d 2024
- 215 __ |a 150页 |c 图 |d 26cm
- 312 __ |a 封面英文题名:Wafer level strain SOI technology
- 314 __ |a 戴显英,工学博士、教授、博士生导师,西安电子科技大学集成电路学部微电子学院教学指导委员会委员、微电子科学与工程专业负责人与专业课程思政首席教授、工程概论首席教授、集成电路制造工艺课程组负责人。
- 330 __ |a 本书共分7章,主要介绍SOI晶圆制备技术、SOI晶圆材料力学特性与结构特性、机械致晶圆级单轴应变SOI技术、高应力氮化硅薄膜致晶圆级应变SOI技术及其相关效应、高应力氮化硅薄膜致晶圆级应变SOI晶圆制备、晶圆级应变SOI应变模型、晶圆级应变SOI应力分布的有限元计算。
- 510 1_ |a Wafer level strain SOI technology |z eng
- 701 _0 |a 戴显英 |9 dai xian ying |f (1961-) |3 UCS10001681335 |4 著
- 701 _0 |a 苗东铭 |9 miao dong ming |4 著
- 701 _0 |a 荆熠博 |9 jing yi bo |4 著