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• 010 __ |a 978-7-03-021490-4 |d CNY62.00

• 100 __ |a 20080725d em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路系统设计、验证与测试 |A ji cheng dian lu xi tong she ji、 yan zheng yu ce shi |f (美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grant Martin著 |g 陈力颖，王猛译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008

• 215 __ |a 14,475页 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路EDA技术

• 300 __ |a 并列题名：EDA for IC System Design, Verfication and Testing

• 312 __ |a 英文原名：EDA for IC System Design, Verfication and Testing

• 330 __ |a 本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。

• 461 _0 |1 2001 |a 集成电路EDA技术

• 510 1_ |a EDA for IC System Design, Verfication and Testing |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |x 电路设计

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _0 |c (美) |a 谢佛尔 |A xie fu er |c (Scheffer, Louis) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 拉瓦尼奥 |A la wa ni ao |c (Lavagno, Luciano) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 马丁 |A ma ding |c (Martin, Grant) |4 著

• 702 _0 |a 陈力颖 |A chen li ying |4 译

• 702 _0 |a 王猛 |A wang meng |4 译

• 801 _0 |a CN |b SFT |c 20080725

• 905 __ |a GDPTC |d TN402/7

• 908 __ |a 0000172277

• 995 __ |a SFT |f TN402/7

• 999 __ |t C |A cqh |a 20080725 09:03:11 |M cqh |m 20080725 09:03:16 |G cqh |g 20080725 09:03:35