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• 010 __ |a 978-7-5767-0545-4 |b 精装 |d CNY108.00

• 092 __ |b CIP-C24ECCF094B247EB8B923ADF085E09AC

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• 200 1_ |a 模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践 |A mo ni /hun he xin hao ji cheng dian lu kang fu zhao ji shu yu shi jian |d = Radiation-hardening techniques and practices for analog/mixed-signal integrated circuits |f 黄晓宗 ... 等编著 |z eng

• 210 __ |a 哈尔滨 |c 哈尔滨工业大学出版社 |d 2023.7

• 215 __ |a 289页 |c 图 (部分彩图) |d 25cm

• 225 2_ |a 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |A cai liao yu qi jian fu she xiao ying ji jia gu ji shu yan jiu zhu zuo

• 300 __ |a 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目

• 304 __ |a 题名页题: 黄晓宗, 李儒章, 付东兵, 吴雪等编著

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理、加固技术和实践、辐射测试技术等研究内容, 并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应、半导体器件的辐射效应损伤机理, 并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性; 第3-5章介绍了从工艺、版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术; 第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究; 第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。

• 333 __ |a 本书适合研究辐射效应与抗辐射加固技术的相关专业本科生和研究生使用, 也可供相关工程技术人员和科研人员学习、参考

• 410 _0 |1 2001 |a 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

• 510 1_ |a Radiation-hardening techniques and practices for analog/mixed-signal integrated circuits |z eng

• 606 0_ |a 模拟集成电路 |A mo ni ji cheng dian lu |x 抗辐射性 |x 研究

• 606 0_ |a 混合集成电路 |A hun he ji cheng dian lu |x 抗辐射性 |x 研究

• 690 __ |a TN431.1 |v 5

• 690 __ |a TN45 |v 5

• 701 _0 |a 黄晓宗 |A huang xiao zong |4 编著

• 701 _0 |a 李儒章 |A li ru zhang |4 编著

• 701 _0 |a 付东兵 |A fu dong bing |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20231227