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• 005 20240926133500.0

• 010 __ |a 978-7-03-076918-3 |d CNY88.00

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• 200 1_ |a 片上系统测试设计与优化 |A pian shang ji tong ce shi she ji yu you hua |f (瑞典) 埃里克·拉森著 |d = Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization |f Erik Larsson |g 孙仁杰译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2024.1

• 215 __ |a x, 314页 |c 图 |d 26cm

• 320 __ |a 有书目 (第301-314页)

• 330 __ |a 本书旨在讨论片上系统 (SoC) 测试的相关问题, 包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂, 测试数据量不断增加, 如何组织测试, 即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

• 333 __ |a 本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读, 也可作为软件测试领域从业者的参考用书

• 510 1_ |a Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization |z eng

• 606 0_ |a 微型计算机 |A wei xing ji suan ji |x 系统测试

• 690 __ |a TP360.21 |v 5

• 701 _1 |a 拉森 |A la sen |g (Larsson, Erik) |4 著

• 702 _0 |a 孙仁杰 |A sun ren jie |4 译

• 801 _0 |a CN |b GDPTC |c 20240923

• 905 __ |a GDPTC |d TP360.21/31