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- 000 01446nam0 2200313 450
- 010 __ |a 978-7-111-74188-6 |d CNY189.00
- 100 __ |a 20240301d2024 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 碳化硅器件工艺核心技术 |A tan hua gui qi jian gong yi he xin ji shu |b 专著 |f (希)康斯坦丁·泽肯特斯(Konstantinos Zekentes),(英)康斯坦丁·瓦西列夫斯基(Konstantin Vasilevskiy)等著 |g 贾护军,段宝兴,单光宝译
- 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2024
- 215 __ |a 16,411页 |c 图,照片 |d 24cm
- 330 __ |a 本书共9章,以碳化硅(SiC)器件工艺为核心,重点介绍了SiC材料生长、表面清洗、欧姆接触、肖特基接触、离子注入、干法刻蚀、电解质制备等关键工艺技术,以及高功率SiC单极和双极开关器件、SiC纳米结构的制造和器件集成等,每一部分都涵盖了上百篇相关文献,以反映这些方面的最新成果和发展趋势。
- 461 _0 |1 2001 |a 半导体与集成电路关键技术丛书
- 510 1_ |a Advancing silicon carbide electronics technology |z eng
- 701 _0 |c (希) |a 泽肯特斯 |A ze ken te si |c (Zekentes, Konstantinos) |4 著
- 701 _0 |c (英) |a 瓦西列夫斯基 |A wa xi lie fu si ji |c (Vasilevskiy, Konstantin) |4 著
- 702 _0 |a 贾护军 |A jia hu jun |4 译
- 702 _0 |a 段宝兴 |A duan bao xing |4 译
- 702 _0 |a 单光宝 |A shan guang bao |4 译
- 801 _2 |a CN |b 58marc.cn |c 20240301