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• 000 01304nam0 2200301 450

• 001 0000392955

• 005 20251215113000.0

• 010 __ |a 978-7-302-66203-7 |d CNY79.00

• 035 __ |a (A100000NLC)013018404

• 049 __ |a A100000NLC |b UCS01012599140 |c 013018404 |d NLC01

• 100 __ |a 20240712d2024 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路测试理论、方法与实践 |9 shu zi ji cheng dian lu ce shi li lun 、 fang fa yu shi jian |b 专著 |f 李华伟[等]编著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2024

• 215 __ |a 10,258页 |c 图 |d 24cm

• 225 1_ |a 集成电路科学与技术丛书

• 304 __ |a 编著者还有：郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维

• 312 __ |a 封面英文题名：Digital integrated circuit testing: principles, methoologies and practices

• 330 __ |a 本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。

• 510 1_ |a Digital integrated circuit testing: principles, methoologies and practices |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.207 |v 5

• 701 _0 |a 李华伟 |9 li hua wei |c (女， |f 1974-) |4 编著

• 801 _0 |a CN |b GDPTC |c 20251215

• 905 __ |a GDPTC |d TN431.207/1