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• 000 01016nam0 2200277 450

• 001 0000166689

• 005 20200622101300.0

• 010 __ |a 978-7-111-23995-6 |d CNY28.00

• 035 __ |a (A100000NLC)003974306

• 049 __ |a A100000NLC |b UCS01001977910 |c 003974306 |d NLC01

• 100 __ |a 20081110d2008 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 嵌入式软件测试 |A Qian Ru Shi Ruan Jian Ce Shi |9 qian ru shi ruan jian ce shi |b 专著 |f 康一梅[等]著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2008

• 215 __ |a 11,229页 |d 26cm

• 300 __ |a 嵌入式系统系列教材

• 304 __ |a 著者还有：张永革、李志军、胡江、吴伟

• 330 __ |a 本书讨论了嵌入式软件测试的相关知识，包括：嵌入式软件测试的相关基本概念、嵌入式软件测试的生命周期、嵌入式软件测试的相关技术、嵌入式软件的测试过程等。

• 606 0_ |a 软件工具 |A Ruan Jian Gong Ju |x 测试 |j 教材

• 690 __ |a TP311.56 |v 4

• 701 _0 |a 康一梅 |A Kang Yi Mei |9 kang yi mei |4 著

• 801 _0 |a CN |b GDPTC |c 20200622

• 905 __ |a GDPTC |d TP311.56/283